信息概要

声学超材料吸声体是一种基于人工结构设计的新型吸声材料，通过其独特的物理结构实现对特定频率声波的高效吸收与控制。本项目检测主要针对其核心物理尺寸参数进行精确测量，以确保产品性能与设计预期相符，满足其在噪声控制、建筑声学、高端装备等领域的应用需求。尺寸精度直接决定了超材料的声学带隙与吸声性能，因此专业的第三方检测是保障产品质量、性能可靠性及实现市场化应用的关键环节，本检测服务旨在为客户提供权威、精准的尺寸合规性验证。

检测项目

单元结构周期长度，单元结构高度，单元结构宽度，内部空腔深度，内部空腔直径，微穿孔板孔径，微穿孔板孔间距，微穿孔板厚度，背腔深度，整体材料总厚度，异形结构曲率半径，螺旋结构丝径，螺旋结构螺距，亥姆霍兹共振器颈长，亥姆霍兹共振器颈径，薄膜材料厚度，质量块附加尺寸，内部通道长度，内部通道截面宽，内部通道截面高，多层结构层间间距，倾斜结构角度，锥形结构大端直径，锥形结构小端直径，非对称结构偏差量，整体平面度，边缘直线度，孔位定位精度，加工公差带，重复单元尺寸一致性

检测范围

薄膜型声学超材料吸声体，微穿孔板型声学超材料吸声体，亥姆霍兹共振器型超材料吸声体，空间卷曲通道型超材料吸声体，局域共振型声学超材料吸声体，多层复合结构超材料吸声体，蜂窝芯层超材料吸声体，梯度折射率超材料吸声体，迷宫式结构超材料吸声体，螺旋结构超材料吸声体，双负参数超材料吸声体，主动控制型超材料吸声体，可调谐超材料吸声体，超表面吸声体，薄板弯曲型超材料吸声体，coiling-up空间结构吸声体，Fabry-Perot共振型超材料吸声体，深亚波长厚度超材料吸声体，多孔弹性超材料吸声体，非线性声学超材料吸声体，智能材料复合超材料吸声体，周期性支柱阵列吸声体，声学黑洞结构吸声体，蜂窝夹层板超材料吸声体， Bragg散射型超材料吸声体，Metamuffler消声器结构，声子晶体型吸声体，各向异性超材料吸声体，超材料吸声隔声一体化结构，超材料吸声吊顶板

检测方法

光学显微镜法：利用光学显微镜对材料表面微结构进行放大观测，以测量微穿孔孔径、孔间距等尺寸。

扫描电子显微镜(SEM)法：采用高分辨率SEM对纳米级或复杂表面形貌的精细结构进行尺寸测量。

三维光学轮廓仪法：通过非接触式扫描获取结构表面的三维形貌数据，用于测量高度、深度等参数。

激光共聚焦显微镜法：利用激光扫描和共聚焦原理，精确测量材料表面和内部结构的尺寸与形貌。

计算机断层扫描(CT)法：通过X射线扫描并三维重建样品内部结构，无损测量内部空腔、通道等隐藏尺寸。

影像测量仪法：使用高精度CCD相机对样品进行二维拍照，通过软件分析测量其几何尺寸与位置公差。

白光干涉仪法：利用白光干涉条纹测量表面高度变化，适用于薄膜厚度、台阶高度等纳米级尺寸测量。

千分尺与卡尺接触测量法：采用机械接触式量具对样品的外部宏观尺寸进行直接测量。

三坐标测量机(CMM)法：通过探针接触式扫描，获取复杂三维结构的空间坐标数据，计算各项尺寸。

激光测距仪法：利用激光反射原理非接触测量大尺寸样品的整体厚度、长度等外部尺寸。

金相试样分析法：对材料进行切割、镶嵌、抛光和腐蚀制样后，在金相显微镜下观测并测量截面尺寸。

超声波测厚法：通过超声波在材料中的传播时间测量其总体厚度，适用于多层复合结构。

投影仪测量法：将样品轮廓放大投影到屏幕上，通过与标准图样比对来测量其几何尺寸。

二维坐标测量法：利用二维测量系统对平面结构的孔位、间距等参数进行精确标定。

表面轮廓仪触针法：通过金刚石触针划过样品表面，记录轮廓曲线以测量粗糙度及微观尺寸。

检测仪器

光学显微镜，扫描电子显微镜(SEM)，三维光学轮廓仪，激光共聚焦显微镜，微焦点X射线计算机断层扫描(CT)系统，全自动影像测量仪，白光干涉仪，数显千分尺，数显卡尺，三坐标测量机(CMM)，激光位移传感器，激光测距仪，金相显微镜，超声波测厚仪，台式投影仪