信息概要

碳纳米管薄膜结晶度测试是评价材料结构有序性的核心分析项目，通过量化碳原子排列规整度直接影响薄膜的导电性、力学强度及热稳定性。该检测对研发高性能电子器件、透明电极和复合材料至关重要，可精准优化生产工艺，保障产品在新能源、航空航天等领域的可靠性。

检测项目

拉曼光谱特征峰强度比, X射线衍射峰半高宽, 晶格畸变率, 石墨化指数, 无序度参数, 碳sp²/sp³杂化比例, 缺陷密度, 晶粒尺寸, 层间距d值, 取向因子, 晶界能, 电子顺磁共振信号强度, 热导率各向异性, 电导率温度依赖性, 紫外可见光谱吸收边, 傅里叶变换红外光谱特征峰, 电子能量损失谱, 原子力显微镜相图对比度, 同步辐射小角散射, 偏振拉曼光谱各向异性比

检测范围

单壁碳纳米管薄膜, 多壁碳纳米管薄膜, 定向排列薄膜, 无序网络薄膜, 聚合物复合薄膜, 金属掺杂薄膜, 柔性透明导电膜, 垂直阵列薄膜, 超薄自支撑膜, 纤维增强膜, 多孔结构薄膜, 功能化改性薄膜, 真空抽滤沉积膜, 化学气相沉积膜, 喷涂法成膜, 旋涂法成膜, 电泳沉积膜, 热压成型膜, 溶液浇铸膜, LB组装膜

检测方法

拉曼光谱分析法：通过D峰与G峰强度比定量表征石墨化程度

X射线衍射法：利用(002)晶面衍射峰宽计算微晶尺寸

高分辨透射电镜：直接观测原子排列结构并统计缺陷密度

电子背散射衍射：统计晶粒取向分布及晶界角度

同步辐射广角散射：解析纳米尺度晶格畸变参数

紫外光电子能谱：测定费米能级附近电子态密度分布

偏振红外光谱：分析碳链取向有序度

低温电子输运测试：通过载流子迁移率推算结晶完整性

原子力显微术相位成像：表面纳米力学性能映射

热重-质谱联用：量化非晶碳杂质含量

电子顺磁共振：检测未成对电子浓度对应结构缺陷

椭圆偏振光谱：薄膜介电函数各向异性分析

四探针电导率测试：建立电导-结晶度关联模型

纳米压痕技术：测量局部弹性模量分布

扫描隧道谱：原子尺度电子态密度空间分辨

检测仪器

激光显微拉曼光谱仪,X射线衍射仪,场发射透射电子显微镜,扫描电子显微镜,原子力显微镜,紫外可见近红外分光光度计,傅里叶变换红外光谱仪,四探针电阻测试仪,同步辐射光源,椭偏仪,热重分析仪,电子顺磁共振波谱仪,低温物性测量系统,纳米压痕仪,扫描隧道显微镜