信息概要

金属有机框架多孔体薄膜（MOF薄膜）是由金属离子与有机配体自组装形成的具有规则孔道结构的新型功能材料，具有超高比表面积、可调孔径和表面化学特性。在气体分离、催化、传感、药物缓释及能源存储等领域应用广泛。对该类薄膜进行系统检测至关重要，可确保材料结构稳定性、孔隙参数精确性及功能性能可靠性，直接关系到终端产品的效率与安全性。第三方检测服务涵盖材料本征特性、机械性能及环境适应性等核心参数的权威验证。

检测项目

比表面积,孔体积,孔径分布,薄膜厚度,晶体结构完整性,热稳定性,化学稳定性,机械强度,气体吸附容量,气体选择性分离系数,透光率,表面粗糙度,亲疏水性,金属节点含量,有机配体完整性,缺陷密度,电化学性能,催化活性,循环稳定性,溶出物分析,薄膜均匀性,附着力,抗氧化性,耐酸碱性,金属离子泄漏率,气体渗透通量,水蒸气透过率,薄膜孔隙连通性

检测范围

ZIF系列薄膜,UiO系列薄膜,MIL系列薄膜,MOF-5基薄膜,HKUST-1薄膜,PCN系列薄膜,IRMOF系列薄膜,CAU系列薄膜,NU系列薄膜,Zn基MOF薄膜,Cu基MOF薄膜,Zr基MOF薄膜,Fe基MOF薄膜,Al基MOF薄膜,混合金属MOF薄膜,荧光功能化MOF薄膜,手性MOF薄膜,导电MOF薄膜,磁性MOF薄膜,核壳结构MOF薄膜,柔性MOF薄膜,共价有机框架复合薄膜,石墨烯复合MOF薄膜,聚合物支撑MOF膜,金属基底MOF膜,陶瓷基MOF膜,中空纤维MOF膜,纳米粒子复合MOF膜

检测方法

低温氮气吸附法（BET/BJH）：精确测定比表面积和孔径分布

X射线衍射（XRD）：分析晶体结构和相纯度

扫描电子显微镜（SEM）：观测表面形貌及截面结构

透射电子显微镜（TEM）：表征纳米级孔道结构

热重分析（TGA）：评估热分解温度和热稳定性

傅里叶红外光谱（FTIR）：检测官能团及化学键变化

X射线光电子能谱（XPS）：分析表面元素组成与化学态

原子力显微镜（AFM）：测量表面粗糙度与三维形貌

水接触角测试：量化材料亲疏水特性

气体渗透测试系统：测定气体分离选择性和通量

纳米压痕技术：评价薄膜机械强度与弹性模量

紫外可见分光光度法（UV-Vis）：检测光学透过率

电感耦合等离子体光谱（ICP-OES）：定量金属元素含量

气相色谱质谱联用（GC-MS）：分析有机配体降解产物

电化学阻抗谱（EIS）：表征薄膜界面电荷传输性能

检测方法

比表面积及孔隙度分析仪,X射线衍射仪,场发射扫描电镜,高分辨透射电镜,同步热分析仪,傅里叶变换红外光谱仪,X射线光电子能谱仪,原子力显微镜,接触角测量仪,气体渗透性测试仪,纳米压痕仪,紫外可见近红外分光光度计,电感耦合等离子体发射光谱仪,气相色谱质谱联用仪,电化学工作站,激光粒度分析仪,椭偏仪,四探针电阻测试仪,荧光光谱仪,环境可控吸附仪,膜分离性能测试系统